ParisTech se présente
 Evénements
 
 Etudier à ParisTech
 La coopération internationale
 Ressources documentaires
 Vivre à ParisTech
 ParisTech et les entreprises
 ParisTech Libres Savoirs
 
 

Polarimétrie de Mueller résolue en angle.

Accueil || Parcours || Recherche || S'enregistrer || Mon Compte || Contacts || Aide || Langues

Ben Hatit, Sami (2009) Polarimétrie de Mueller résolue en angle. Doctorat Physique, Laboratoire de Physique des Interfaces et Couches Minces, EP/X p.160.

Plein texte disponible en tant que :

- BenHatitSami-phdthesis.pdf ( 20072 Kb )
Licence: Copyright

Résumé

A new Mueller polarimeter based on liquid crystals and a microscope objective has been developed and is presented. Fast measurements of complete Mueller matrices over a range of polar angles (0-60°) and all azimuthal angles (0-360°) are achieved without mechanical movements. The polarization states generator and analyzer are based on nematic liquid crystals. The angular range is achieved through focalization of light over the measured sample with a microscope objective of high numerical aperture and imaging of the objective’s back Fourier plane on a CCD array. A method for the calibration of the instrument, and particularly the precise characterization of the microscope objective, is shown and validated over well-known isotropic samples. The application of this device to the characterization of diffraction gratings in a conical diffraction mounting is presented, as well multiple other application perspectives such as overlay measurement, biological samples or plastic samples in transmission.

Type d'EPrint:Thèse (Doctorat)
Directeur de Thèse:De Martino, Antonello
Date:Janvier 2009
Jury de Thèse:Cattelan, Denis et Chabli, Amal et De Martino, Antonello et Lalanne, Philippe et Le Jeune, Bernard et Lequime, Michel
Ecole Doctorale:ED 447 ECOLE DOCTORALE DE L'ECOLE POLYTECHNIQUE
Discipline:Physique
Fonds:Ecole Polytechnique (EP/X)
Institution:EP/X
Laboratoire:Laboratoire de Physique des Interfaces et Couches Minces
Sujets:3. Physique, optique
Mots-clés libres:Polarimetry, Mueller, Ellipsometry, Characterization, Diffraction gratings
Code ID:4815
Déposé par :Sami Ben Hatit
Déposé le :27 Mars 2009

Statistiques de consultation

Administrateurs de l'archive uniquement : éditer cet enregistrement

 
ParisTech
 
droits de reproduction et de diffusion réservés © ParisTech 2007